Промышленные компьютерные томографы nanome|x neo та microme|x neo
НК решение для тестирования электроники
Высокоточные инструменты для осмотра полупроводников, печатных плат и другого
Системы microme|x neo и nanome|x предназначены для проведения неразрушающего рентгеновского контроля с высоким разрешением в реальном времени, а также для автоматизированной рентгеновской инспекции.
Прецизионный манипулятор, 180 кВ рентгеновская трубка, термостабилизированный детектор позволяют использовать данные установки для широчайшего спектра 2D и 3D инспекционных задач: проведение НИОКР, анализ дефектов, контроль качества, автоматизированная инспекция печатных плат, микросхем, BGA-компонентов, переходных отверстий.
Системы могут оснащаться функцией компьютерной томографии. Программное обеспечение позволяет добиться 100 % обнаружения дефектов. Использование высококонтрастного цифрового детектора DXR (30 кадров в секунду) с активным охлаждением дает возможность получать 2D рентгеновские снимки высочайшего качества.
Сферы применения:
- автоматизированная рентгеновская инспекция печатных плат;
- контроль качества пайки компонентов;
- контроль разварки кристаллов;
- обнаружение трещин в проводниках с размером
- контроль пустот;
- контроль BGA-компонентов.
Ключевые особенности
- Мощная микро-/нанофокусная трубка открытого типа 180 кВ/20 Вт, обеспечивающая различимость деталей вплоть до 500 нм.
- Высококонтрастный цифровой детектор с активным охлаждением.
- Прецизионный манипулятор.
- Возможность установки опции томографии.
- Рентгеновская инспекция в реальном времени.
