+44 (0) 800 123 4567 No.1 Abbey Road London, W1 ECH, UK
  • Промышленные компьютерные томографы nanome|x neo та microme|x neo

Промышленные компьютерные томографы nanome|x neo та microme|x neo

НК решение для тестирования электроники

Высокоточные инструменты для осмотра полупроводников, печатных плат и другого

Системы microme|x neo и nanome|x предназначены для проведения неразрушающего рентгеновского контроля с высоким разрешением в реальном времени, а также для автоматизированной рентгеновской инспекции.

Прецизионный манипулятор, 180 кВ рентгеновская трубка, термостабилизированный детектор позволяют использовать данные установки для широчайшего спектра 2D и 3D инспекционных задач: проведение НИОКР, анализ дефектов, контроль качества, автоматизированная инспекция печатных плат, микросхем, BGA-компонентов, переходных отверстий.

Системы могут оснащаться функцией компьютерной томографии. Программное обеспечение позволяет добиться 100 % обнаружения дефектов. Использование высококонтрастного цифрового детектора DXR (30 кадров в секунду) с активным охлаждением дает возможность получать 2D рентгеновские снимки высочайшего качества.

Сферы применения:

  • автоматизированная рентгеновская инспекция печатных плат;
  • контроль качества пайки компонентов;
  • контроль разварки кристаллов;
  • обнаружение трещин в проводниках с размером
  • контроль пустот;
  • контроль BGA-компонентов. 

Ключевые особенности 

  • Мощная микро-/нанофокусная трубка открытого типа 180 кВ/20 Вт, обеспечивающая различимость деталей вплоть до 500 нм.
  • Высококонтрастный цифровой детектор с активным охлаждением.
  • Прецизионный манипулятор.
  • Возможность установки опции томографии.
  • Рентгеновская инспекция в реальном времени.

Больше информации...

Оплата
Безналичный расчет с НДС.
Гарантия
12 месяцев.
Доставка
Транспортом компании ОНИКО по всей Украине, самовывоз, транспортом заказчика со склада в г. Киеве, компаниями-перевозчиками (Новая почта, Деливери и т.д.).

Заказ каталога






Похожие товары

Новости

ХХII конференция НКТД<br>
ХХII конференция НКТД

Полезная информация

Отзывы (0)