Продукция

v|tome|x m — многоцелевая рентгеновская микрофокусная КТ-система для 3D метрологии и анализа с напряжением 240 кВ или 300 кВ и мощностью 320 Вт или 500 Вт. Система позволяет распознавать детали размером менее 1 мкм, что выводит ее в лидеры индустрии среди компактных систем с трубкой 300 кВ. Микрофокусная трубка опционально может оснащаться новой разработкой компании GE высокопоточной мишенью, позволяющей до 2 раз увеличить производительность системы, либо проводить сканирования с удвоенным разрешением.

Система может оснащаться дополнительной нанофокусной трубкой, использование 2-х трубок позволяет значительно повысить универсальность и получать детальную 3D-информацию для широчайшего диапазона образцов.

Наличие детектора нового поколения с размером пикселя 100 мкм, программной опции для автоматизированного процесса сканирования и возможность оснащения роботом: позволяют применять систему для потокового КТ-контроля. При этом процесс контроля будет полностью автоматизирован, начиная от загрузки образцов, с дальнейшим подбором параметров сканирования, выполнением сканирования, обработкой 3D-модели и заканчивая выводом отчета по заданной форме.

v|tome|x m является первой промышленной КТ-системой, оснащенной технологией коррекции рассеянного рентгеновского излучения, что особенно важно для контроля сильнопоглощающих изделий на основе железа, никеля, например, турбинных лопаток. Данная технология представляет собой программно-аппаратный комплекс, который в автоматизированном режиме убирает артефакты рассеянного излучения из 3D-модели, что позволяет получать лучшие результаты в сравнении с обычной томографией на плоскопанельный детектор.

Ключевые особенности v|tome|x m 

• Первая компактная 300 кВ микрофокусная КТ система с возможностью определения деталей размером менее 1 мкм.
• Максимальное увеличение для 300 кВ систем при исследовании сильнопоглощающих образцов.
• Высокая мощность даже на максимальном ускоряющем напряжении.
• Возможность применения долговечных катодов со сроком службы до 10 раз больше в сравнении с обычными.
• Уникальная возможность использования двух трубок (dual|tube) для проведения как микро-КТ сильнопоглащающих образцов, так и нано-КТ высокого разрешения.
• Использование высокопоточной мишени для получения результатов с удвоенным разрешением, либо уменьшением времени сканирования до 2-х раз.
• Технология коррекции рассеянного рентгеновского излучения, позволяющая значительно улучшить результаты КТ-сканирования.
• Новый детектор din 41|100: увеличение производительности в 2 раза, либо удвоенное разрешение за одинаковое время сканирования, в сравнении со стандартным 200 мкм детектором DXR250.
• Возможность сканирования в полностью автоматизированном режиме.
• Метрология:
• 4 мкм + L[мм]/100;
• термостабилизированный кабинет;
• высокоточная система измерений перемещений;
• защищенный от вибраций манипулятор на гранитном основании;
• калибровочные образцы;
• специализированное ПО