Промисловий комп'ютерний томограф v|tome|x m
v|tome|x m - багатоцільова рентгенівська мікрофокусна КТ-система для 3D метрології та аналізу з напругою 240 кВ або 300 кВ та потужністю 320 Вт або 500 Вт. Система дозволяє розпізнавати деталі розміром менше 1 мкм, що виводить її в лідери індустрії серед компактних систем з трубкою 300 кВ. Мікрофокусна трубка опціонально може оснащуватися новою розробкою компанії GE - високопоточною мішенню, що дозволяє до 2 разів збільшити продуктивність системи, або проводити сканування з подвоєною роздільною здатністю.
Система може оснащуватися додатковою нанофокусною трубкою, використання 2-х трубок дозволяє значно підвищити універсальність і отримувати детальну 3D-інформацію для найширшого діапазону зразків.
Наявність детектора нового покоління з розміром пікселя 100 мкм, програмної опції для автоматизованого процесу сканування і можливість оснащення роботом дозволяють застосовувати систему для потокового КТ-контролю. При цьому процес контролю буде повністю автоматизований, починаючи від завантаження зразків, з подальшим підбором параметрів сканування, виконанням сканування, обробкою 3D-моделі і закінчуючи виведенням звіту за заданою формою.
v|tome|x m є першою промислової КТ-системою, оснащеною технологією корекції розсіяного рентгенівського випромінювання, що особливо важливо для контролю сильнопоглинаючих виробів на основі заліза, нікелю, наприклад, турбінних лопаток. Дана технологія являє собою програмно-апаратний комплекс, який в автоматизованому режимі прибирає артефакти розсіяного випромінювання з 3D-моделі, що дозволяє отримувати кращі результати в порівнянні зі звичайною томографією на плоскопанельний детектор.
Ключові особливості v|tome|x m
- Перша компактна 300 кВ мікрофокусна КТ система з можливістю визначення деталей розміром менше 1 мкм.
- Максимальне збільшення для 300 кВ систем при дослідженні сильнопоглинаючих зразків.
- Висока потужність навіть на максимальній напрузі прискорення.
- Можливість застосування довговічних катодівзі строком служби до 10 разів більше в порівнянні зі звичайними.
- Унікальна можливість використання двох трубок (dual | tube) для проведення як мікро-КТ сильнопоглинаючих зразків, так і нано-КТ високої роздільної здатності.
- Використання високопоточної мішені для отримання результатів з подвоєною роздільною здатністю, або зменшенням часу сканування до 2-х разів.
- Технологія корекції розсіяного рентгенівського випромінювання, що дозволяє значно поліпшити результати КТ-сканування.
- Новий детектор din 41 | 100: збільшення продуктивності в 2 рази, або подвоєна роздільна здатність за однаковий час сканування, в порівнянні зі стандартним 200 мкм детектором DXR250.
- Можливість сканування в повністю автоматизованому режимі.
- Метрологія:
- 4 мкм + L [мм] / 100;
- термостабілізований кабінет;
- високоточна система вимірювання переміщень;
- захищений від вібрацій маніпулятор на гранітній підставці;
- калібрувальні зразки;
- спеціалізоване ПО